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突破MLC神話 金士頓UV400固態(tài)硬盤寫入超越3000PE

時(shí)間:2016-11-23 21:36:46
  • 來源:官方稿件
  • 作者:pannds
  • 編輯:pannds

除了持續(xù)寫入之外,PCEVA論壇還分階段進(jìn)行90度高溫連續(xù)24小時(shí)烘烤測試。

我們知道,閃存是利用保存在浮柵(Floating Gate,簡稱FG)中的電子來保存數(shù)據(jù)的,在高溫條件下FG中的電子將比常溫下更快地逃逸,當(dāng)逃逸的電子數(shù)量達(dá)到一定程度就會導(dǎo)致存儲的數(shù)據(jù)出錯(cuò)。通過高溫烘烤可以在較短時(shí)間內(nèi)等效考察常溫條件下長時(shí)間斷電后數(shù)據(jù)保存的情況。按照業(yè)界規(guī)范,消費(fèi)級固態(tài)硬盤應(yīng)當(dāng)能夠在30度條件下斷電一年時(shí)間依舊保持存儲數(shù)據(jù)的正確無誤。

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